標題：X射線鍍層膜厚儀
產品概述
X射線鍍層膜厚儀是一種用于精密測量金屬電鍍層厚度的設備。其工作原理基于X射線穿過薄膜后，會根據薄膜的材料和厚度發生不同程度的吸收。膜越厚，吸收的X射線越多；膜越薄，則吸收的X射線越少。通過測量通過薄膜后的X射線強度的變化，可以得到薄膜的厚度信息。
型 號：iEDX-150WT
生 產 商：韓國 ISP 公司
特點：該型儀器采用開槽式大平臺設計，適合測試扁平狀大面積樣品，適合線路板及連接器行業的鍍層厚度管控。
(一)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀產品優勢
1. 鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性高。
2. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達 110*110*5mm。(固定臺可選)
3. 激光定位和自動多點測量功能。
4. 可檢測固體、粉末狀態材料。
5. 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低。
6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。
7. 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質、高性能、高穩定性，快速出檢測結果。
8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
9. 軟件升級。
10. 無損檢測，一次性購買標樣可長期使用。
11. 使用安心無憂，售后服務響應時間 24H 以內，提供*保姆式服務。
(二)iEDX-150WT 鍍層膜厚儀X射線光譜儀配置及技術指標
1. X 射線管：高穩定性 X 光光管，微焦點 X 射線管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口， 陽極焦斑尺寸 75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
50kV，1mA。高壓和電流設定為應用程序提供良好性能。
2. 探測器：SDD 探測器(可選Si-Pin)
能量分辨率：125±5eV(Si-Pin:159±5eV)
3. 濾光片/可選
初級濾光片：Al濾光片，自動切換
7個準直器：客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
(三)X射線鍍層測厚儀測量原理
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